Neues Christian Doppler-Labor an der TU Wien		erstellt am 07. 05. 07
Am 11. Mai wird das neue Christian Doppler Labor für Oberflächen- und Grenzflächenanalytik mit TOF-SIMS an der Technischen Universität (TU) Wien eröffnet. Wien (tu) - Im Rahmen des Programmes UniINFRASTRUKTUR III wurde an der Technischen Universität (TU) Wien über eine Million Euro in die Anschaffung eines TOF-SIMS- Analysengerät (Time of Flight - Secondary Ion Mass Spectrometry) investiert. Das Gerät ist das Herzstück des neuen "Christian Doppler-Laboratorium für Oberflächen- und Grenzflächenanalytik mit TOF-SIMS", das am 11. Mai eröffnet wird. In Kooperation mit der Firma AT&S (Austria Technologie und Systemtechnik) wird in diesem von der Christian Doppler Forschungsgesellschaft (CDG) geförderten Labor angewandte Grundlagenforschung für die Weiterentwicklung von Leiterplatinen durchgeführt. Die geplante Laufzeit des CD-Labors beträgt sieben Jahre, das jährliche Budget - das je zur Hälfte von der CDG und von AT&S getragen wird - beträgt 110.000 Euro. Laborleiter Herbert Hutter und seine KollegInnen benutzen das derzeit einzige TOF-SIMS-Gerät an einer österreichischen Universität zur Analyse von Oberflächen und Dünnen Schichten, die mit einem gepulsten Ionenstrahl beschossen werden. Aus der Flugzeit der emittierten Atom- und Molekülionen lässt sich deren Masse bestimmen und damit auf den Zusammensetzung der Probe schließen. Highlight der Eröffnung am 11. Mai ab 14:30 Uhr ist der Vortrag von Prof. Alfred Benninghoven (75), der in breiter interdisziplinärer und internationaler Kooperation mit vielen Forschergruppen die Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) entwickelte und zu einem anerkannten oberflächenanalytischen Standardverfahren, dessen breite und auch industrielle Anwendungen heute von der Mikroelektronik bis zu den Biowissenschaften und der Medizin reichen, gemacht hat.
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